Eesti teadlased ja ettevõtjad saavad nüüdsest põhjalikult analüüsida erisuguste materjalide koostist ning eelkõige ainete pinnakihti. Tartu ülikooli uus mõõteriist annab mh tagasiside nanomaterjalide või nanomõõdus pinnakatete kvaliteedi kohta.
Tartu ülikooli keemia instituut soetas endale umbes poolteist miljonit eurot maksnud mõõteriista – lennuaja sekundaarioonide mass-spektromeetri ehk lühemalt ToF-SIMS mõõtekompleksi.
Tartu ülikooli optika ja spektroskoopia vanemteadur Sven Lange rääkis ERR Novaatorile, et sellise analüüsivõimega masin aine pinna analüüsiks on Eestis esmakordne. Tema hinnangul loob masin konkurentsieelise Eesti teadlastele nii suures areaalis kui võimalik.
Seadme kasutusvaldkondadena tõin Lange välja erinevate probleemide hindamist, mis on seotud nii aatomite kui ka molekulide identifitseerimise ja paiknemise tuvastamisega aine pinnal ja selle läheduses.
„Siin võib näiteks tuua keemilise sünteesiga loodud nanomaterjalid või nanomõõdus pinnakatted, mille puhul võimaldab aparaat anda tagasisidet nende kvaliteedist. Pinnad ja pindade füüsika on ülioluline. See on üks nanotehnoloogia suuri valdkondi: kuidas teha väga õhukesi pinnakatteid ja milliseid efekte materjalide omadustes siis esineb, sest neid on väga erinevaid,“ rääkis vanemteadur.
Lange sõnul on mõõteriista kasutamine avatud nii teadlastele kui ka ettevõtjatele.„Niivõrd suure avaliku raha investeeringu tulemus peab olema kättesaadav. See pole kindlasti privatiseeritud ega kellegi isiklik, vaid igal juhul avalikke huve teeniv mõõtekompleks.“
Masin soetati Eesti teaduse teekaardiobjekti „Nanomaterjalid – uuringud ja rakendused” raames USA-st.
Loe masina kohta lähemalt ERR Novaatorist.
Lisainfo: Sven Lange, TÜ optika ja spektroskoopiavanemteadur, tel: 737 4718, e-post: sven [dot] lange [ät] ut [dot] ee.